合金分析儀可用于識別物質中的特定元素

　　合金分析儀是一種XRF光譜分析技術，可用于識別物質中的特定元素并同時對其進行量化。它可以根據X射線的發射波長（λ）和能量（E）來確定特定元素，通過測量相應射線的密度來確定該元素的含量。這樣，XRF光譜法就可以確定物質的元素組成。
　　每個原子都有自己固定數量的電子（電負性粒子）圍繞原子核運行。并且電子的數量等于原子核中質子（帶正電的粒子）的數量。從元素周期表中的原子數，我們可以知道質子數。每個原子序數對應一個固定的元素名稱，如鐵，元素名稱為Fe，原子序數為26。能量色散X射線熒光和波長色散X射線熒光光譜分析技術專門研究應用于最內層三個電子軌道的活動，即K、L、M。其中K軌道離原子核最近，每個電子軌道對應一個元素的特定能級。
　　在XRF分析中，從X射線管發射的高能初級射線光子撞擊樣品元素。這些初級光子包含足夠的能量來撞擊最內層殼層（K層或L層層）中的電子并使其脫軌。此時，原子變成不穩定的離子。由于電子本能地尋求穩定，L或M外殼中的電子將進入構成內殼的空間。當這些電子從外殼移動到內殼時，它們會釋放能量，我們稱之為二次X射線光子。整個過程稱為熒光輻射。每種元素的二次射線都有自己的特點。X射線光子熒光輻射產生的能量是由電子轉換時內外層的能量差決定的。例如，鐵原子Fe的Kα能量約為6.4 keV。特定元素在一定時間內發射的X射線的數量或密度可以用來衡量這種元素的含量。典型的XRF能量分布譜圖顯示了不同能量下的光子密度分布。
　　合金分析儀檢測范圍：鈦、釩、鉻、錳、鐵,Co,Ni,Cu,Zn,Se,Nb,Zr,Mo,Pd,Ag,Sn,Sb,Ta,Hf,Re,W,Pb,Bi。