創建時間:2018-05-21 17:00
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iEDX-150T鍍層測厚儀
ISP iEDX-150T鍍層測厚儀;
采用非真空樣品腔;
專業用于PCB電鍍鍍層分析、PCB鍍層厚度測量及金屬電鍍鍍層分析;
采用多種光譜擬合分析處理技術;
可增加合金成份分析及RoHS功能。
采用非真空樣品腔;
專業用于PCB電鍍鍍層分析、PCB鍍層厚度測量及金屬電鍍鍍層分析;
采用多種光譜擬合分析處理技術;
可增加合金成份分析及RoHS功能。
善時儀器
手 機: 18589082047
電 話 : 0755-23347785
傳 真: 0755-27205042
郵 箱: sales@sense.cc
地 址: 深圳市寶安區新橋街道沙企社區中心路18號高盛大廈12樓
應用領域
iEDX-150T鍍層測厚儀應用于金屬電鍍鍍層分析領域;
技術指標
多鍍層分析,1~5層;
測試精度:0.001 μm;
元素分析范圍從鋁(Al)到鈾(U);
測量時間:10~30秒;
SDD探測器,能量分辨率為125±5eV;
探測器Be窗0.5mil(12.7μm);
微焦X射線管50kV/1mA,鉬,銠靶(高配微焦鉬靶);
6個準直器及多個濾光片自動切換;
XYZ三維移動平臺,MAX荷載為5公斤;
高清CCD攝像頭(200萬像素),準確監控位置;
多變量非線性去卷積曲線擬合;
高性能FP/MLSQ分析;
儀器尺寸:618×525×490mm;
樣品臺尺寸:250×220mm;
樣品臺移動范圍:前后左右各80mm、高度90mm。
圖譜界面
軟件支持無標樣分析;
寬大分析平臺和樣品腔;
集成了鍍層分析界面和合金成份分析界面;
采用多種光譜擬合分析處理技術;
鍍層測厚分析精度可達到0.001μm。
分析報告結果
直接打印分析報告;
報告可轉換為PDF,EXCEL格式。
樣品分析圖譜:
測試結果界面:
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