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        首頁    鍍層測厚儀    iEDX-150T鍍層測厚儀
        150T
        創建時間:2018-05-21 17:00
        瀏覽量:0

        iEDX-150T鍍層測厚儀

        ISP iEDX-150T鍍層測厚儀;
        采用非真空樣品腔;
        專業用于PCB電鍍鍍層分析、PCB鍍層厚度測量及金屬電鍍鍍層分析;
        采用多種光譜擬合分析處理技術;
        可增加合金成份分析及RoHS功能。

        善時儀器

        手  機: 18589082047

        電     話 :  0755-23347785

        傳  真: 0755-27205042

        郵    箱: sales@sense.cc

        地  址: 深圳市寶安區新橋街道沙企社區中心路18號高盛大廈12樓

         

        應用領域

         iEDX-150T鍍層測厚儀應用于金屬電鍍鍍層分析領域;

         

        技術指標

        多鍍層分析,1~5層;

        測試精度:0.001 μm;

        元素分析范圍從鋁(Al)到鈾(U);

        測量時間:10~30秒;

        SDD探測器,能量分辨率為125±5eV;

        探測器Be窗0.5mil(12.7μm);

        微焦X射線管50kV/1mA,鉬,銠靶(高配微焦鉬靶);

        6個準直器及多個濾光片自動切換;

         XYZ三維移動平臺,MAX荷載為5公斤;

         高清CCD攝像頭(200萬像素),準確監控位置;

        多變量非線性去卷積曲線擬合;

        高性能FP/MLSQ分析;

        儀器尺寸:618×525×490mm;

        樣品臺尺寸:250×220mm;

        樣品臺移動范圍:前后左右各80mm、高度90mm。

         

        圖譜界面

        軟件支持無標樣分析;

        寬大分析平臺和樣品腔;

        集成了鍍層分析界面和合金成份分析界面;

        采用多種光譜擬合分析處理技術;

        鍍層測厚分析精度可達到0.001μm。

         

        分析報告結果

        直接打印分析報告;
        報告可轉換為PDF,EXCEL格式。

         

        樣品分析圖譜:

         

        150T樣品分析圖譜

         

        測試結果界面:

         

        150T測試結果

         

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